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產(chǎn)品名稱： SAM 300E - 適用于大型件、異形件，伸縮掃描手臂，可用于超大深水槽

上市日期：2018-01-03

產(chǎn)品參數(shù)
適用范圍
說明
產(chǎn)品描述
參數(shù)配置

SAM 300 E??主要技術(shù)參數(shù)：

（敬請(qǐng)注意：因超聲掃描技術(shù)日新月異，以下所列設(shè)備最的參數(shù)規(guī)格僅供參考，并非最新；如您需要設(shè)備最新的技術(shù)規(guī)格表或需要我們定制提供某些硬件配置或軟件功能，請(qǐng)您聯(lián)系對(duì)應(yīng)區(qū)域的銷售人員）

一機(jī)械部分：

1. X/Y軸為線性馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，Z 軸行程大于100mm ，Z軸自動(dòng)對(duì)焦

2. 掃描范圍：最小 0.20 mm ×0.20 mm?；最大?> 300mm×300 mm

3. 最大掃描速率：1,000 mm/s

4. 重復(fù)精度：+/- 0.1μm

5. 標(biāo)準(zhǔn)工作水槽尺寸：690 x 590 x 150 mm * 70mm 或690 x 590 x 150 mm * 150mm 或定制加長工做水槽，配置工字形樣品臺(tái)

二電子部分:

1. DPR 500 超聲波接收和發(fā)射器頻率帶寬：500MHz

2. ADC卡采樣頻率：1.25G/秒 (2G , 5G 可選配）

3. 前置放大器：L2，H2 （ H3-選配）

支持換能器（探頭）范圍：1MHz -400MHz? 或按產(chǎn)品需求，定制提供探頭頻率和焦距

部分可選項(xiàng)：??

1. ?大水槽，深水槽定制；各種樣品吸盤、夾具定制

2. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、?共聚焦顯微鏡、?? X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）

3. ?德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）

使用要求；220V，50Hz?，去離子水

如需更為詳細(xì)資料，敬請(qǐng)來電來函索取，如軟件、硬件升級(jí)，相關(guān)參數(shù)會(huì)有所變更，請(qǐng)以生產(chǎn)廠家確認(rèn)為準(zhǔn)。

軟件部分: Winsam 5.8?超聲掃描成像軟件、SAMnalysis IA?計(jì)算分析軟件部分功能介紹：

1. 主要掃描模式：A-（點(diǎn)掃描），B-（縱向掃描），C-（橫向掃描），D- 斜面掃描、G-/X-橫向多層掃描，P- 縱向多層掃描，3D掃描，Z-實(shí)體掃描，透射掃描（需配置透射掃描單元及接收探頭選項(xiàng)），S-掃描（透射+ C-掃描同時(shí)進(jìn)行）,HQ-高清掃描，順序掃描，自動(dòng)掃描，Tray-托盤掃描，預(yù)掃描和快速預(yù)掃描等；

2. 定量測(cè)量功能：分層面積百分比計(jì)算；缺陷尺寸標(biāo)識(shí)；厚度與距離測(cè)量等；聲阻抗計(jì)算等；

3. 圖像著色功能：根據(jù)相位翻轉(zhuǎn)自動(dòng)著色；根據(jù)灰度等級(jí)手動(dòng)著色；根據(jù)渡越時(shí)間手動(dòng)著色，根據(jù)厚度變化手動(dòng)著色（已知材料的阻抗值）

4. 圖像處理功能：包括圖像增強(qiáng)、濾波、平滑、銳利等常規(guī)的圖像處理功能；渡越時(shí)間分析；推拉窗口分析；厚度估計(jì)；聲速計(jì)算；波形比較分析；三維圖像顯示和分析；

5. 圖像輸出格式：?bmp，jpg，sam等格式；

6. 射頻增益窗口：-22dB-50dB，高級(jí)菜單設(shè)置

7. 圖像分辨率：最高可支持42000 * 42000 像素（基于ADC卡內(nèi)存）

專業(yè)工業(yè)控制計(jì)算機(jī)系統(tǒng)基本配置：

基本配置：CPU 3.5 GHz, Intel 八核處理器，32GB 內(nèi)存，1T硬盤，DVD-RW刻錄光驅(qū)，高速圖像卡，Windows 10操作系統(tǒng)，USB及網(wǎng)絡(luò)接口，1臺(tái)或 2臺(tái) 27' LCD 液晶顯示器或2臺(tái)22寸液晶顯示器, 配置防靜電操作臺(tái)

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AM 300 基本型

發(fā)布時(shí)間: 2017 - 12 - 29

1. 前后雙工位系統(tǒng)，減少機(jī)器停頓時(shí)間，顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）4、圓柱體、管材樣品檢測(cè)旋轉(zhuǎn)裝置5、使用要求； 220V，50Hz ，去離子水

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SAM 300E - 適用于大型件、異形件，伸縮掃描手臂，可用于超大深水槽

發(fā)布時(shí)間: 2018 - 01 - 03

部分可選項(xiàng)： 1. 大水槽，深水槽定制；各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）3. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）使用要求；220V，50Hz ，去離子水如需更為詳細(xì)資料，敬請(qǐng)來電來函索取，如軟件、硬件升級(jí)，相關(guān)參數(shù)會(huì)有所變更，請(qǐng)以生產(chǎn)廠家確認(rèn)為準(zhǔn)。

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SAM 301 單探頭掃描

發(fā)布時(shí)間: 2019 - 03 - 12

部分可選項(xiàng)： 1. 德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統(tǒng)，減少機(jī)器停頓時(shí)間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)4．在不改變掃描機(jī)構(gòu)主體，升級(jí)為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統(tǒng)，成倍提高掃描效率4. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）5、圓柱體、管材樣品檢測(cè)旋轉(zhuǎn)裝置使用要求；220V，50Hz ，去離子水備注：SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機(jī)型,SAM 301 UltraTec 超高速機(jī)型（雙馬達(dá)配置，掃描速度最高達(dá) 2000mm/s）SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機(jī)型，根據(jù)具體配置予以細(xì)分，滿足不同用戶需求；歡迎您來電咨詢，我們會(huì)根據(jù)您的產(chǎn)品檢測(cè)需要，為您推薦最合適的機(jī)型和配置.設(shè)備如軟件、硬件升級(jí)，相關(guān)參數(shù)會(huì)有所變更，請(qǐng)以生產(chǎn)廠家確認(rèn)為準(zhǔn)。

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