超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）是一種無損檢測設(shè)備，可以用于檢測材料內(nèi)部的缺陷、結(jié)構(gòu)、密度、組織等特性。C-SAM可以廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)，太陽能以及晶圓鍵合缺陷檢測等領(lǐng)域，給傳統(tǒng)的精細結(jié)構(gòu)觀察帶來了全新的方法。

科視達（上海）國際貿(mào)易有限公司是一家專門從事超聲波掃描顯微鏡，光學(xué)視頻顯微鏡、和無損檢測儀器銷售與技術(shù)服務(wù)的公司，主要產(chǎn)品均為在國際上擁有相當知名度的高科技光學(xué)和聲學(xué)檢測儀器，同時擁有一批具有豐富工作經(jīng)驗的技術(shù)服務(wù)工程師，在為國內(nèi)用戶提供前衛(wèi)檢測儀器的同時，還為廣大用戶提供完善、及時周到的1對1技術(shù)服務(wù)。

科視達（上海）國際貿(mào)易有限公司提供的PVA TePla C-SAM超聲波掃描顯微鏡具有以下特點：

采用***速線性馬達和磁懸浮技術(shù)的掃描臺，可隔絕振動影響，確保圖像不會因快速掃描而失真；

采用***頻率和超聲換能器技術(shù)，頻率可高達500MHz，可實現(xiàn)高分辨率和高靈敏度的檢測；

采用簡單易用的圖形用戶界面，提供強大的功能，可輕松應(yīng)對各種復(fù)雜的超聲檢測工作；

支持多種掃描模式，如A-，B-，C-，D-，G-，P-，X-，Z-，3D-等，并可自定義掃描區(qū)域和序列掃描；

支持逐層自動對焦和透射掃描功能，可對樣品內(nèi)部任意界面自動對焦，并同時進行透射和反射模式的掃描；

支持B-scan定量測量功能，可對缺陷位置

缺陷位置、大小、深度等參數(shù)進行計算；

C-SAM有兩種工作模式：反射模式和透射模式。反射模式是主要的工作模式，它的特點是分辨率高，對待測樣品厚度沒有限制。透射模式是輔助的工作模式，它的特點是對待測樣品厚度有限制，但可以提供更多信息。

反射模式：反射模式的工作原理如下圖所示。超聲波換能器發(fā)出一定頻率的超聲波脈沖，經(jīng)過聲學(xué)透鏡聚焦，由耦合介質(zhì)（一般是去離子水或無水酒精等）傳到樣品上。樣品內(nèi)部的不同界面（如空洞、裂紋、分層等）會對超聲波產(chǎn)生反射，反射回波經(jīng)過聲學(xué)透鏡再次聚焦，被換能器接收并轉(zhuǎn)換成電信號，送到信號處理系統(tǒng)進行放大、濾波、采樣等處理，顯示在屏幕上形成圖像。通過控制換能器在樣品上方以二維方式作機械掃描，可以得到樣品內(nèi)部的二維或三維圖像。

透射模式：透射模式的工作原理如下圖所示。透射模式需要在樣品下方安裝另外一只換能器，作為接收器。發(fā)射換能器和接收換能器之間保持一定的距離和對齊，形成一個超聲波通道。發(fā)射換能器發(fā)出一定頻率的超聲波脈沖，經(jīng)過聲學(xué)透鏡聚焦，由耦合介質(zhì)傳到樣品上。樣品內(nèi)部的不同界面會對超聲波產(chǎn)生反射或衰減，只有完全穿透樣品的超聲波才能被接收換能器接收并轉(zhuǎn)換成電信號，送到信號處理系統(tǒng)進行放大、濾波、采樣等處理，顯示在屏幕上形成圖像。通過控制發(fā)射換能器和接收換能器在樣品上方以二維方式作機械掃描，可以得到樣品內(nèi)部的二維或三維圖像。

科視達（上海）國際貿(mào)易有限公司不僅提供1對1的C-SAM超聲波掃描檢測檢驗設(shè)備，還提供完善的售后服務(wù)和技術(shù)支持。