2013年，科視達(dá)® 攜手德國 PVA TePla 在上海成立了亞洲最大的 德國 PVA TePla 超聲波掃描顯微鏡 上海聯(lián)合實驗室，陳列有德國 PVA TePla 三種不同規(guī)格型號的超聲波掃描顯微鏡主流機(jī)型，為廣大用戶提供現(xiàn)場看機(jī)服務(wù)，技術(shù)交流，及樣品外協(xié)測試服務(wù)，同時，德國 PVA TePla 的專業(yè)技術(shù)人員會經(jīng)常來此為用戶進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)和講座。 如有樣品測試服務(wù)需求或批量外系測試服務(wù)需要，敬請隨時聯(lián)系我們各辦事處銷售人員。 超聲波掃描顯微鏡 SAM/SAT 檢測的主要特性：非破壞性、無損傷檢測各種材料、元器件內(nèi)部缺陷可無損檢測各種 IC 器件、材料內(nèi)部缺陷（如裂紋、空氣分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）可分層掃描、多層掃描實施、直觀的圖像及分析缺陷的測量及百分比的計算 - 可精確定位內(nèi)部缺陷大小、面積與所在位置，并予以著色表示可顯示材料內(nèi)部的三維圖像該超聲波對人體無害超聲波掃描顯微鏡 SAM/SAT 的主要應(yīng)用領(lǐng)域 ( 不局限于）：半導(dǎo)體電子行業(yè)：集成電路IC 封裝器件、SMT 貼片器件、LTCC 器件、IGBT 功率器件、...
發(fā)布時間:
2015
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