德國(guó)PVA顯微鏡是一種無(wú)損檢測(cè)部件的完整性、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料內(nèi)部狀況的儀器。作為無(wú)損檢測(cè)分析的一種，可以在不破壞材料電性能和保持結(jié)構(gòu)完整性的情況下對(duì)材料進(jìn)行檢測(cè)。廣泛應(yīng)用于材料檢驗(yàn)、失效分析、質(zhì)量控制、質(zhì)量保證和可靠性、研發(fā)等領(lǐng)域。它可以檢查雜質(zhì)顆粒、晶格結(jié)構(gòu)、沉淀物、夾雜物，分層缺陷，內(nèi)部裂紋，空洞、氣泡、空隙等。

德國(guó)PVA顯微鏡原理：PVA顯微鏡主要是利用超聲波脈沖回波的特性，激勵(lì)壓電換能器發(fā)出多個(gè)超聲波，通過(guò)耦合的液體介質(zhì)傳遞給被測(cè)樣品。聲波的機(jī)械波傳播過(guò)程類似于電磁波，通過(guò)不同介質(zhì)的時(shí)候發(fā)生折射和反射，通過(guò)不同聲阻抗的材料時(shí)波的相位和能量會(huì)發(fā)生變化。經(jīng)過(guò)一系列的數(shù)據(jù)采集和計(jì)算，會(huì)形成灰度值圖，可以用來(lái)分析樣品的內(nèi)部情況。

先進(jìn)的顯微成像技術(shù)是許多行業(yè)檢查和發(fā)現(xiàn)各種樣品缺陷的重要手段。超聲掃描顯微鏡可以根據(jù)不同的掃描方式反映材料中不同的界面圖像。超聲C掃描模式是常用的，它可以反映材料內(nèi)部的橫截面圖像。根據(jù)聚焦面的不同，可以逐層生成不同截面的超聲圖像。超聲B掃描反映的是材料內(nèi)部的縱向橫斷面圖像，超聲T掃描反映的是材料內(nèi)部的穿透圖像。這種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在檢查材料和保存完整樣品時(shí)尤為突出。

PVA顯微鏡工作模式分為兩種：基于超聲脈沖的反射和透射模式。反射模式是主要的工作模式，其特點(diǎn)是分辨率高，對(duì)被測(cè)樣品的厚度沒(méi)有限制。透射模式僅用于半導(dǎo)體企業(yè)的器件篩選。

德國(guó)PVA顯微鏡可用于檢測(cè)半導(dǎo)體、芯片封裝、復(fù)合新材料、金剛石復(fù)合片、航空航天材料、低壓電器、新能源鋰電池、碳纖維材料等領(lǐng)域的內(nèi)部缺陷，多應(yīng)用于半導(dǎo)體電子行業(yè)：精密焊接行業(yè)如水冷板、電池浸潤(rùn)、紅外、光電傳感器、SMT貼片器件、MEMS等材料行業(yè)。